產品名稱：LCR數字電橋
產品型號：ZL2817D型
產品報價：
產品特點：ZL2817D系列LCR數字電橋是本公司新研制的低頻元件測量儀器的換代產品，其中應用多項元件測量的技術，大字符LCD顯示，SMD貼片工藝，操作方便，外形美觀?？芍苯訙y量多達六種的元件參數組合，能滿足生產線質量保證，進貨檢驗及自動化生產的需要。
ZL2817D型LCR數字電橋的詳細資料：
ZL2817D系列LCR數字 電橋是本公司新研制的低頻元件測量儀器的換代產品，其中應用多項元件測量的技術，大字符LCD顯示，SMD貼片工藝，操作方便，外形美觀?？芍苯訙y量多達六種的元件參數組合，能滿足生產線質量保證，進貨檢驗及自動化生產的需要。
RS-232接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。HANDLER接口可連接元件自動分選系統。
ZL2817D系列LCR數字電橋性能特點
簡便操作與強大功能的合理結合
采用SMT表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性
大型白色背光LCD顯示屏
100Hz～100kHz,8個典型測試頻率
0.1V、0.3V、1.0V三個典型測試電平
30Ω/100Ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同LCR表的測試*性
配置RS232接口和HANDLER接口
ZL2817D系列LCR數字電橋技術指標
測 量 功 能 | |
測試參數 | 六種測量參數組合: C/D、L/Q、R/Q、Z/θ、C/R、L/R |
基本準確度 | 0.1% |
等效電路 | 串聯、并聯 |
量程方式 | 自動、保持 |
觸發方式 | 內部、手動、外部 |
測試速度 | 快速: 16次/秒 |
校正功能 | 開路、短路、掃頻清零 |
顯示方式 | 直讀/Δ/Δ% |
顯示器 | 5位分辨率,帶背光LCD顯示屏 |
測 量 信 號 | |
測量信號頻率 | 100Hz、120Hz、 |
測量信號電平 | 0.1Vrms、0.3Vrms、1.0Vrms |
輸出電阻 | 30Ω、100Ω |
測 量 顯 示 范 圍 | |
|Z|、R、X | 0.0001Ω～99.999MΩ |
C | 0.001pF～99999μF |
L | 0.001μH～99999H |
D | 0.0001～9.9999 |
Q | 0.0001～9999.9 |
Δ% | -99.99%～99.99% |
比 較 器 及 接 口 | |
比較器 | 五檔分選,三檔合格,一檔不合格,一個附屬檔 |
接口 | RS232C(標配)、HANDLER(選件) |
體積 | 320mm×140mm×360mm |
重量 | ～2.5kg |
數字電橋就是能夠測量電感，電容，電阻，阻抗的儀器，這是一個傳統習慣的說法， 早的阻抗測量用的是真正的電橋方法，隨著現代模擬和數字技術的發展，早已經淘汰了這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR 數字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCR Meter等等。
性能特點:
廣泛的測量對象
半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數,導電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數、彈性常數等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
多參數混合顯示功能
多參數同時顯示可滿足復雜元件各種分布參數的全面觀察與評估要求，而不必反復切換測量參數。
電感L和其直流電阻DCR可以同時測量顯示，顯著提高電感測量效率。
揭示電感器件的多種特性
使用內部/外部直流偏置，結合各種掃描測試功能，可以地分析磁性材料、電感器件的性能。
通過偏置電流疊加測試功能，可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用外部電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以分析高功率、大電流電感器件。
的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產生明顯的變化。
儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是大測試電壓不夠。
使用擴展測量選件可提供分辨率為1%及
高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在條件下進行液晶材料的電容特性測量。
半導體材料和元件的測量
進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數，這些可從C－Vdc特性的測量結果推導出來。
通過提供的直流源，結合各種掃描功能，可以方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至小。
各種二極管、三極管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內容
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